Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte | Buch, Verlag und Erscheinungsjahr
30/06/2026
Lesedauer: 7 min
Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte von Hans-Jörg Tafel auf einen Blick: Buchprofil, Inhalt und zentrale Daten. Gut, wenn du Inhalt und Eckdaten ohne Umwege sehen willst.
Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte - Buchbeschreibung, Ausstattung und ISBN
Wer nach einem Buch von Hans-Jörg Tafel aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung. Die Kurzbeschreibung von Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte zeigt, welche Inhalte Leserinnen und Leser erwarten dürfen: Die digitale Prüf technik muß mit der zunehmenden Komplexität digitaler Schaltungen Schritt halten. Die hochintegrierte Schaltungstechnik bewirkte, daß heute eine einzige Leiterplatte Funktionen erfüllt, für die man noch vor einigen Jahren Baugruppen im Schrankformat benötigte. Die digitale Prüf technik wird daher automatisiert. Algorithmisch erstellte Testsätze werden durch einen Prozeßrechner an die zu prüfende Leiterplatte angelegt und die Ergebnisse werden mit Sollwerten verglichen.Es wird eine Echtzeitprüfung angestrebt, denn nur sie gestattet eine Aussage über die Funktion der Leiter platte unter Betriebsbedingungen. Der hier vorgestellte Prüfplatz erfüllt die Forderungen nach Automatisierung und Echtzeitprüfung. An Hand von Beispielen wer den seine Leistungen nachgewiesen. - 3 - Inhalt Einleitung 1. 5 Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung 7 2. Elektrischer und mechanischer Aufbau 7 2. 1 2.2 Der Datentransfer 10 Arbeitsweise 2.3 1 1 Erweiterung des Prüfplatzes 2.4 16 Der Prüfplatz für Real-Time prüfung 24 3. 3.1 Ubersicht über den Hardware-Aufbau 24 3.2 Testmusterspeicher 27 3.3 Sequenzerbaustein 28 3.4 Interne Clock 29 3.5 Pinzuordnung 30 3.6 Vergleicher 31 3.7 Befehlsdecoder 32 3.8 Ubersicht über die Ansteuersoftware 34 Untersuchungen mit dem Prüfplatz für 4 Bibliografisch ist Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte mit dem Erscheinungsdatum 1980, dem Verlag und dem Ort gw erfasst.
Einordnung nach Autor, Thema und Ausgabe
Mit der Sprache Deutsch lässt sich Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte auch im internationalen oder mehrsprachigen Kontext präzise filtern. Auch das Veröffentlichungsdatum 1980 macht Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant. Wer Literatur aus dem Bereich Sachbuch sucht, findet in Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte einen gut klassifizierbaren Titel. Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte ist besonders für Leserinnen und Leser interessant, die sich gezielt mit Veröffentlichungen von Hans-Jörg Tafel beschäftigen möchten. Die Angaben zu und gw stärken die bibliografische Präzision des Eintrags.
Inhalte, Themen und Relevanz
Wer wissen möchte, worauf Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte inhaltlich abzielt, findet in dieser Zusammenfassung einen ersten Ansatzpunkt: Die digitale Prüf technik muß mit der zunehmenden Komplexität digitaler Schaltungen Schritt halten. Die hochintegrierte Schaltungstechnik bewirkte, daß heute eine einzige Leiterplatte Funktionen erfüllt, für die man noch vor einigen Jahren Baugruppen im Schrankformat benötigte. Die digitale Prüf technik wird daher automatisiert. Algorithmisch erstellte Testsätze werden durch einen Prozeßrechner an die zu prüfende Leiterplatte angelegt und die Ergebnisse werden mit Sollwerten verglichen.Es wird eine Echtzeitprüfung angestrebt, denn nur sie gestattet eine Aussage über die Funktion der Leiter platte unter Betriebsbedingungen. Der hier vorgestellte Prüfplatz erfüllt die Forderungen nach Automatisierung und Echtzeitprüfung. An Hand von Beispielen wer den seine Leistungen nachgewiesen. - 3 - Inhalt Einleitung 1. 5 Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung 7 2. Elektrischer und mechanischer Aufbau 7 2. 1 2.2 Der Datentransfer 10 Arbeitsweise 2.3 1 1 Erweiterung des Prüfplatzes 2.4 16 Der Prüfplatz für Real-Time prüfung 24 3. 3.1 Ubersicht über den Hardware-Aufbau 24 3.2 Testmusterspeicher 27 3.3 Sequenzerbaustein 28 3.4 Interne Clock 29 3.5 Pinzuordnung 30 3.6 Vergleicher 31 3.7 Befehlsdecoder 32 3.8 Ubersicht über die Ansteuersoftware 34 Untersuchungen mit dem Prüfplatz für 4 Ein Blick auf das Inhaltsverzeichnis zeigt die thematische Struktur der Ausgabe: 1. Einleitung | 2. Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau | 2.2 Der Datentransfer | 2.3 Arbeitsweise | 2.4 Erweiterung des Prüfplatzes | 3. Der Prüfplatz für Real-Time Prüfung | 3.1 Übersicht über den Hardware-Aufbau | 3.2 Testmusterspeicher 2 | 3.3 Sequenzerbaustein | 3.4 Interne Clock | 3.5 Pinzuordnung | 3.6 Vergleicher | 3.7 Befehlsdecoder | 3.8 Übersicht über die Ansteuersoftware | 4. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlüssen zwischen Signalleitungen | 4.2 Einflüsse der Technologie auf das Fehlerverhalten | 5. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für Real-Time | Prüfung | 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten | 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung | 6. Zusammenfassung | 7. Literatur. Für die thematische Suche und semantische Zuordnung sind insbesondere diese Tags relevant: Engineering, Engineering, general Der dokumentierte Umfang von 1 Seiten sowie das Format physical geben einen guten ersten Eindruck von der Ausgabe.
Ausgabe, Identifikatoren und Referenzen
Die Kombination aus ISBN-10 3322884554 und ISBN-13 9783322884558 ermöglicht eine besonders präzise bibliografische Zuordnung. Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL19847852W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL27036703M. Durch die Kombination aus , gw und 1980 lässt sich die Ausgabe sauber verorten.
Wichtige Buchdaten im Überblick
- Primäre Kategorie: Sachbuch
- Verzeichnetes Inhaltsverzeichnis: 1. Einleitung | 2. Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau | 2.2 Der Datentransfer | 2.3 Arbeitsweise | 2.4 Erweiterung des Prüfplatzes | 3. Der Prüfplatz für Real-Time Prüfung | 3.1 Übersicht über den Hardware-Aufbau | 3.2 Testmusterspeicher 2 | 3.3 Sequenzerbaustein | 3.4 Interne Clock | 3.5 Pinzuordnung | 3.6 Vergleicher | 3.7 Befehlsdecoder | 3.8 Übersicht über die Ansteuersoftware | 4. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlüssen zwischen Signalleitungen | 4.2 Einflüsse der Technologie auf das Fehlerverhalten | 5. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für Real-Time | Prüfung | 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten | 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung | 6. Zusammenfassung | 7. Literatur.
- Verfasst von: Hans-Jörg Tafel
- Erscheinungsdatum: 1980
- Open-Library-Editions-IDs: OL27036703M
- Ort der Veröffentlichung: gw
- ISBN-13: 9783322884558
- Schlagwörter: Engineering, Engineering, general
- Format: physical
- Buchtitel: Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte
- Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 3322884554
- Umfang: 1 Seiten
- Sprache: Deutsch
- Externe Work-Referenz: OL19847852W
- Kurzbeschreibung: Die digitale Prüf technik muß mit der zunehmenden Komplexität digitaler Schaltungen Schritt halten. Die hochintegrierte Schaltungstechnik bewirkte, daß heute eine einzige Leiterplatte Funktionen erfüllt, für die man noch vor einigen Jahren Baugruppen im Schrankformat benötigte. Die digitale Prüf technik wird daher automatisiert. Algorithmisch erstellte Testsätze werden durch einen Prozeßrechner an die zu prüfende Leiterplatte angelegt und die Ergebnisse werden mit Sollwerten verglichen.Es wird eine Echtzeitprüfung angestrebt, denn nur sie gestattet eine Aussage über die Funktion der Leiter platte unter Betriebsbedingungen. Der hier vorgestellte Prüfplatz erfüllt die Forderungen nach Automatisierung und Echtzeitprüfung. An Hand von Beispielen wer den seine Leistungen nachgewiesen. - 3 - Inhalt Einleitung 1. 5 Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung 7 2. Elektrischer und mechanischer Aufbau 7 2. 1 2.2 Der Datentransfer 10 Arbeitsweise 2.3 1 1 Erweiterung des Prüfplatzes 2.4 16 Der Prüfplatz für Real-Time prüfung 24 3. 3.1 Ubersicht über den Hardware-Aufbau 24 3.2 Testmusterspeicher 27 3.3 Sequenzerbaustein 28 3.4 Interne Clock 29 3.5 Pinzuordnung 30 3.6 Vergleicher 31 3.7 Befehlsdecoder 32 3.8 Ubersicht über die Ansteuersoftware 34 Untersuchungen mit dem Prüfplatz für 4
- Publiziert bei:
Relevanz für Suche und Einordnung
Die Verbindung aus Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte, Hans-Jörg Tafel, Sachbuch und Engineering, Engineering, general schafft eine solide Grundlage für eine präzise thematische Suche. Mit ISBN-10, ISBN-13 und Work-ID - 3322884554, 9783322884558 und OL19847852W - lässt sich diese Ausgabe plattformübergreifend eindeutig verknüpfen.
FAQ zu Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte
Wie lässt sich das Buch sprachlich und thematisch filtern?
Über die Sprache Deutsch und die Schlagwörter Engineering, Engineering, general kann die Ausgabe gezielt in Such- und Katalogsystemen eingegrenzt werden.
Worum handelt es sich bei Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte?
Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte ist ein Buch von Hans-Jörg Tafel, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.
Welche ISBN-Nummern sind für diese Ausgabe hinterlegt?
Für diese Ausgabe sind sowohl die ISBN-10 3322884554 als auch die ISBN-13 9783322884558 verfügbar.
Welche Themen oder Kapitel umfasst das Buch?
Aus der Inhaltsübersicht ergeben sich folgende Schwerpunkte: 1. Einleitung | 2. Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau | 2.2 Der Datentransfer | 2.3 Arbeitsweise | 2.4 Erweiterung des Prüfplatzes | 3. Der Prüfplatz für Real-Time Prüfung | 3.1 Übersicht über den Hardware-Aufbau | 3.2 Testmusterspeicher 2 | 3.3 Sequenzerbaustein | 3.4 Interne Clock | 3.5 Pinzuordnung | 3.6 Vergleicher | 3.7 Befehlsdecoder | 3.8 Übersicht über die Ansteuersoftware | 4. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für quasistatische Prüfung | 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlüssen zwischen Signalleitungen | 4.2 Einflüsse der Technologie auf das Fehlerverhalten | 5. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für Real-Time | Prüfung | 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten | 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung | 6. Zusammenfassung | 7. Literatur.
Externe Links
Hier findest du weitere ausgewählte Links.

