Rasterelektronenmikroskopie | Buchinfos, Beschreibung und ISBN
26/06/2026
Lesedauer: 2 min
Kompakte Infos zu Rasterelektronenmikroskopie von L. Reimer: Thema, Ausgabe und bibliografische Daten. Praktisch, wenn du Titel prüfen oder Ausgaben vergleichen willst.
Rasterelektronenmikroskopie: Inhalt, Einordnung und bibliografische Details
Rasterelektronenmikroskopie ist ein Werk von L. Reimer, das innerhalb der Kategorie Sachbuch eingeordnet wird und bereits durch seine klare thematische Ausrichtung überzeugt. Die Ausgabe erschien am 1973 bei Springer und ist dem Verlagsstandort Berlin zugeordnet.
Was diese Ausgabe besonders interessant macht
Mit Springer in Berlin ist die verlegerische Zuordnung der Ausgabe klar nachvollziehbar. Durch die Zuordnung zur Kategorie Sachbuch wird Rasterelektronenmikroskopie auch für thematische Recherchen besonders relevant. Rasterelektronenmikroskopie liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Gerade wer nach Werken von L. Reimer sucht, sollte Rasterelektronenmikroskopie näher betrachten. Das hinterlegte Publikationsdatum 1973 unterstützt dabei, Rasterelektronenmikroskopie zeitlich korrekt zu klassifizieren.
Inhalte, Themen und Relevanz
Für die thematische Suche und semantische Zuordnung sind insbesondere diese Tags relevant: Scanning electron microscopes, Optique électronique, Instruments d'optique, Rasterelektronenmikroskopie
ISBN, Revision und weitere Referenzdaten
Im Open-Library-Kontext ist das Werk über OL13478860W sowie die Editionszuordnungen OL21841507M referenzierbar. Die Ausgabe ist über den Verlag Springer, den Ort Berlin und das Datum 1973 klar kontextualisiert.
Bibliografische Eckdaten dieser Ausgabe
- Verfasst von: L. Reimer
- Erscheinungsdatum: 1973
- Externe Work-Referenz: OL13478860W
- Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
- Primäre Kategorie: Sachbuch
- Externe Editionsreferenzen: OL21841507M
- Buchtitel: Rasterelektronenmikroskopie
- Schlagwörter: Scanning electron microscopes, Optique électronique, Instruments d'optique, Rasterelektronenmikroskopie
- Ort der Veröffentlichung: Berlin
- Verlag: Springer
- Umfang: 263 Seiten
- Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 3540061029
Suchrelevante Merkmale dieser Ausgabe
Die Verbindung aus Rasterelektronenmikroskopie, L. Reimer, Sachbuch und Scanning electron microscopes, Optique électronique, Instruments d'optique, Rasterelektronenmikroskopie schafft eine solide Grundlage für eine präzise thematische Suche.
FAQ zu Rasterelektronenmikroskopie
Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?
Mit OL13478860W und OL21841507M lässt sich das Werk auch in externen bibliografischen Zusammenhängen besser verknüpfen.
Worum handelt es sich bei Rasterelektronenmikroskopie?
Rasterelektronenmikroskopie ist ein Buch von L. Reimer, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.
Wie ist die Ausgabe verlegerisch einzuordnen?
Bibliografisch wird die Ausgabe über Springer, Berlin und das Datum 1973 beschrieben.
In welcher Sprache liegt das Buch vor?
Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar; thematisch unterstützen zusätzlich die Tags Scanning electron microscopes, Optique électronique, Instruments d'optique, Rasterelektronenmikroskopie bei der Einordnung.
Externe Links
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