Angewandte Oberflächenanalyse | Buch, Verlag und Erscheinungsjahr

Angewandte Oberflächenanalyse - Details zu Inhalt, Autor und Veröffentlichung

Wer nach einem Buch von M. Grasserbauer aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Angewandte Oberflächenanalyse eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung. Der Zusatz mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie schärft das Profil von Angewandte Oberflächenanalyse und unterstützt die thematische Einordnung bereits auf den ersten Blick. Bibliografisch ist Angewandte Oberflächenanalyse mit dem Erscheinungsdatum 1986, dem Verlag Springer-Verlag und dem Ort Berlin erfasst.

Einordnung nach Autor, Thema und Ausgabe

Für Recherchen nach Veröffentlichungszeitraum ist Angewandte Oberflächenanalyse mit dem Datum 1986 eindeutig zuordenbar. Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar und damit gezielt für Leserinnen und Leser mit entsprechender Sprachpräferenz interessant. Verlagsname und Verlagsort - Springer-Verlag und Berlin - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren. Für alle, die Bücher von M. Grasserbauer recherchieren oder vergleichen, ist Angewandte Oberflächenanalyse eine relevante Ausgabe. Durch die Zuordnung zur Kategorie Sachbuch wird Angewandte Oberflächenanalyse auch für thematische Recherchen besonders relevant.

Thematische Einordnung von Angewandte Oberflächenanalyse

Über die Schlagwörter Surface chemistry, X-ray spectroscopy, Secondary ion mass spectrometry lässt sich Angewandte Oberflächenanalyse auch in größeren Beständen gezielt auffinden.

Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe

Die Open-Library-Zuordnung über OL4922347W und OL2338883M verbessert die externe Nachvollziehbarkeit des Werkes. Verlag, Ort und Datum - Springer-Verlag, Berlin und 1986 - bilden zusammen einen wichtigen bibliografischen Kern dieses Datensatzes.

Bibliografische Eckdaten dieser Ausgabe

1. Publiziert bei: Springer-Verlag
2. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
3. Open-Library-Editions-IDs: OL2338883M
4. Veröffentlicht am: 1986
5. Externe Work-Referenz: OL4922347W
6. Untertitel: mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
7. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
8. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 0387150501
9. Schlagwörter: Surface chemistry, X-ray spectroscopy, Secondary ion mass spectrometry
10. Verfasst von: M. Grasserbauer
11. Seitenzahl: 300
12. Ort der Veröffentlichung: Berlin
13. Buchtitel: Angewandte Oberflächenanalyse

Auffindbarkeit und bibliografische Präzision

Angewandte Oberflächenanalyse profitiert für die Auffindbarkeit besonders von der Verbindung zwischen M. Grasserbauer, Sachbuch und den Tags Surface chemistry, X-ray spectroscopy, Secondary ion mass spectrometry, weil dadurch eine starke semantische Einordnung entsteht.

Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe

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