Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen - Inhalt, Kategorie und bibliografische Infos
19/06/2026
Lesedauer: 3 min
Kompakte Infos zu Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen von Marcel Jacomet: Thema, Ausgabe und bibliografische Daten. Gut, wenn du Inhalt und Eckdaten ohne Umwege sehen willst.
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen - Inhalt, Kategorie und bibliografische Infos
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen von Marcel Jacomet - Informationen zur Ausgabe
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen gehört zur Kategorie Sachbuch und stammt von Marcel Jacomet - eine Kombination, die den Titel sowohl fachlich als auch bibliografisch interessant macht. Bibliografisch ist Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen mit dem Erscheinungsdatum 1991, dem Verlag Hartung-Gorre und dem Ort Konstanz erfasst.
Warum Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen relevant sein kann
Dass Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen in Deutsch erschienen ist, erleichtert die gezielte Auswahl für sprachspezifische Recherchen. Mit Hartung-Gorre in Konstanz ist die verlegerische Zuordnung der Ausgabe klar nachvollziehbar. Gerade wer nach Werken von Marcel Jacomet sucht, sollte Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen näher betrachten. Wer Literatur aus dem Bereich Sachbuch sucht, findet in Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen einen gut klassifizierbaren Titel. Mit dem Erscheinungszeitpunkt 1991 lässt sich Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen.
Was behandelt Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen?
Über die Schlagwörter Data processing, Testing, Design and construction, Digital integrated circuits, Metal oxide semiconductors, Integrated circuits, Fault tolerance lässt sich Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen auch in größeren Beständen gezielt auffinden.
Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe
Die verlegerische und zeitliche Einordnung wird durch Hartung-Gorre, Konstanz und 1991 präzise ergänzt. Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL3782243W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL1298282M.
Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 3891913958
Verlagsort: Konstanz
Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
Umfang: 271 Seiten
Buchtitel: Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen
Thematische Tags: Data processing, Testing, Design and construction, Digital integrated circuits, Metal oxide semiconductors, Integrated circuits, Fault tolerance
Open-Library-Editions-IDs: OL1298282M
Relevanz für Suche und Einordnung
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen profitiert für die Auffindbarkeit besonders von der Verbindung zwischen Marcel Jacomet, Sachbuch und den Tags Data processing, Testing, Design and construction, Digital integrated circuits, Metal oxide semiconductors, Integrated circuits, Fault tolerance, weil dadurch eine starke semantische Einordnung entsteht.
Häufige Fragen zu Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen
Gibt es externe Referenzdaten für das Werk?
Ja, das Werk ist über die Open-Library-Work-ID OL3782243W sowie die Editions-IDs OL1298282M referenzierbar.
Wie lässt sich Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen thematisch einordnen?
Die Ausgabe wird dem Bereich Sachbuch zugeordnet und ist damit für thematisch fokussierte Recherchen gut geeignet.
Wann und wo wurde die Ausgabe veröffentlicht?
Die Ausgabe erschien am 1991 bei Hartung-Gorre und ist dem Veröffentlichungsort Konstanz zugeordnet.
In welcher Sprache liegt das Buch vor?
Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar; thematisch unterstützen zusätzlich die Tags Data processing, Testing, Design and construction, Digital integrated circuits, Metal oxide semiconductors, Integrated circuits, Fault tolerance bei der Einordnung.
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