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Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen - Welche Ausgabe, welcher Verlag, welche ISBN?

15/06/2026

Lesedauer: 2 min

Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen von Frank Sill im Überblick mit Inhalt, Buchdaten und Einordnung. Ideal, um Relevanz, Ausgabe und Details schnell zu prüfen.

Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen - Welche Ausgabe, welcher Verlag, welche ISBN?

Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen - Welche Ausgabe, welcher Verlag, welche ISBN?

Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen - Buchbeschreibung, Ausstattung und ISBN

Wer nach einem Buch von Frank Sill aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung.

Einordnung nach Autor, Thema und Ausgabe

Mit dem Erscheinungszeitpunkt 2009 lässt sich Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen. Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren. Gerade wer nach Werken von Frank Sill sucht, sollte Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen näher betrachten. Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar und damit gezielt für Leserinnen und Leser mit entsprechender Sprachpräferenz interessant.

Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe

Die Open-Library-Zuordnung über OL32369286W und OL44123676M verbessert die externe Nachvollziehbarkeit des Werkes.

Wichtige Buchdaten im Überblick

  1. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
  2. Publiziert bei: GRIN Verlag GmbH
  3. Umfang: 232 Seiten
  4. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
  5. Externe Work-Referenz: OL32369286W
  6. Open-Library-Editions-IDs: OL44123676M
  7. Veröffentlicht am: 2009
  8. Verfasst von: Frank Sill
  9. Buchtitel: Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen
  10. Gewicht: 0.309
  11. ISBN-13: 9783640227419

Fragen und Antworten rund um diese Ausgabe

Wie lässt sich Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms Integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien Bei Konstanten Performanceanforderungen thematisch einordnen?

Die Ausgabe wird dem Bereich Sachbuch zugeordnet und ist damit für thematisch fokussierte Recherchen gut geeignet.

Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?

Mit OL32369286W und OL44123676M lässt sich das Werk auch in externen bibliografischen Zusammenhängen besser verknüpfen.

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