Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS - Worum geht es im Buch?

Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS im Überblick

Mit Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS liegt ein Buch von Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek, Maria F. Ebel vor, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und sich für alle eignet, die gezielt nach Literatur mit diesem Schwerpunkt suchen.

Was diese Ausgabe besonders interessant macht

Auch das Veröffentlichungsdatum 1986 macht Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant. Gerade wer nach Werken von Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek, Maria F. Ebel sucht, sollte Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS näher betrachten. Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar und damit gezielt für Leserinnen und Leser mit entsprechender Sprachpräferenz interessant. Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren.

Edition und bibliografische Einordnung

Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL44560261W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL60853192M.

Bibliografische Daten auf einen Blick

1. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783112702673
2. Verfasst von: Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek, Maria F. Ebel
3. Sprache: Deutsch
4. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
5. Erscheinungsdatum: 1986
6. Titel: Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS
7. Open-Library-Work-ID: OL44560261W
8. Externe Editionsreferenzen: OL60853192M
9. Verlag: de Gruyter GmbH, Walter

Fragen und Antworten rund um diese Ausgabe

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