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Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen | Inhalt & Buchinfos

12/06/2026

Lesedauer: 2 min

Hier findest du zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen von Roland Nuffer die wichtigsten Infos zur Ausgabe. Praktisch, wenn du Titel prüfen oder Ausgaben vergleichen willst.

Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen | Inhalt & Buchinfos

Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen | Inhalt & Buchinfos

Alles Wichtige zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen

Wer nach einem Buch von Roland Nuffer aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung.

Relevante Merkmale auf einen Blick

Wer Literatur aus dem Bereich Sachbuch sucht, findet in Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen einen gut klassifizierbaren Titel. Mit dem Erscheinungszeitpunkt 2001 lässt sich Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen. Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar und damit gezielt für Leserinnen und Leser mit entsprechender Sprachpräferenz interessant. Gerade wer nach Werken von Roland Nuffer sucht, sollte Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen näher betrachten.

ISBN, Revision und weitere Referenzdaten

Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL44537142W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL60816148M.

Die zentralen Metadaten zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen

  1. Erscheinungsdatum: 2001
  2. Gewicht: 3.809
  3. Verfasst von: Roland Nuffer
  4. Buchtitel: Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
  5. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
  6. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
  7. Externe Editionsreferenzen: OL60816148M
  8. Open-Library-Work-ID: OL44537142W
  9. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783897226647
  10. Verlag: Logos Verlag Berlin

Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe

Gibt es externe Referenzdaten für das Werk?

Ja, das Werk ist über die Open-Library-Work-ID OL44537142W sowie die Editions-IDs OL60816148M referenzierbar.

Wie lässt sich Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen thematisch einordnen?

Die Ausgabe wird dem Bereich Sachbuch zugeordnet und ist damit für thematisch fokussierte Recherchen gut geeignet.

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