Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen | Inhalt & Buchinfos
12/06/2026
Lesedauer: 2 min
Hier findest du zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen von Roland Nuffer die wichtigsten Infos zur Ausgabe. Praktisch, wenn du Titel prüfen oder Ausgaben vergleichen willst.

Alles Wichtige zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
Wer nach einem Buch von Roland Nuffer aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung.
Relevante Merkmale auf einen Blick
Wer Literatur aus dem Bereich Sachbuch sucht, findet in Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen einen gut klassifizierbaren Titel. Mit dem Erscheinungszeitpunkt 2001 lässt sich Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen. Die Ausgabe ist in Deutsch verfügbar und damit gezielt für Leserinnen und Leser mit entsprechender Sprachpräferenz interessant. Gerade wer nach Werken von Roland Nuffer sucht, sollte Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen näher betrachten.
ISBN, Revision und weitere Referenzdaten
Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL44537142W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL60816148M.
Die zentralen Metadaten zu Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
- Erscheinungsdatum: 2001
- Gewicht: 3.809
- Verfasst von: Roland Nuffer
- Buchtitel: Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
- Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
- Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
- Externe Editionsreferenzen: OL60816148M
- Open-Library-Work-ID: OL44537142W
- Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783897226647
- Verlag: Logos Verlag Berlin
Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe
Gibt es externe Referenzdaten für das Werk?
Ja, das Werk ist über die Open-Library-Work-ID OL44537142W sowie die Editions-IDs OL60816148M referenzierbar.
Wie lässt sich Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen thematisch einordnen?
Die Ausgabe wird dem Bereich Sachbuch zugeordnet und ist damit für thematisch fokussierte Recherchen gut geeignet.
Externe Links
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