Buch Sachbuch Scanning electron microscopes Scanning electron microscopy

Raster-Elektronenmikroskopie | Buchdetails & ISBN

05/06/2026

Lesedauer: 2 min

Raster-Elektronenmikroskopie von Ludwig Reimer kurz erklärt: Worum es geht und welche Ausgabe vorliegt. Klicke für klare Fakten statt vager Kurztexte.

Raster-Elektronenmikroskopie | Buchdetails & ISBN

Buch Sachbuch Scanning electron microscopes Scanning electron microscopy 05/06/2026

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Alles Wichtige zu Raster-Elektronenmikroskopie

Raster-Elektronenmikroskopie ist ein Werk von Ludwig Reimer, das innerhalb der Kategorie Sachbuch eingeordnet wird und bereits durch seine klare thematische Ausrichtung überzeugt. Bibliografisch ist Raster-Elektronenmikroskopie mit dem Erscheinungsdatum 1973, dem Verlag Springer und dem Ort Berlin erfasst.

Mit dem Erscheinungszeitpunkt 1973 lässt sich Raster-Elektronenmikroskopie sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen. Raster-Elektronenmikroskopie liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Gerade wer nach Werken von Ludwig Reimer sucht, sollte Raster-Elektronenmikroskopie näher betrachten. Wer Literatur aus dem Bereich Sachbuch sucht, findet in Raster-Elektronenmikroskopie einen gut klassifizierbaren Titel. Verlagsname und Verlagsort - Springer und Berlin - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren.

Worum geht es in Raster-Elektronenmikroskopie?

Über die Schlagwörter Scanning electron microscopy, Scanning electron microscopes lässt sich Raster-Elektronenmikroskopie auch in größeren Beständen gezielt auffinden.

ISBN, Revision und weitere Referenzdaten

Für weiterführende bibliografische Verknüpfungen sind die Kennungen OL1911139W und OL5311338M, OL4539473M besonders hilfreich. Die Ausgabe ist über den Verlag Springer, den Ort Berlin und das Datum 1973 klar kontextualisiert.

Wichtige Buchdaten im Überblick

  1. Verlagsort: Berlin
  2. Erscheinungsdatum: 1973
  3. Buchtitel: Raster-Elektronenmikroskopie
  4. Externe Editionsreferenzen: OL5311338M, OL4539473M
  5. Externe Work-Referenz: OL1911139W
  6. Verfasst von: Ludwig Reimer
  7. Seitenzahl: 263
  8. Primäre Kategorie: Sachbuch
  9. Schlagwörter: Scanning electron microscopy, Scanning electron microscopes
  10. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
  11. ISBN-10: 3540061029
  12. Publiziert bei: Springer

Warum sich Raster-Elektronenmikroskopie gut einordnen lässt

Durch die Kombination aus Titel, Autorenschaft, Kategorie und Schlagwörtern - also Raster-Elektronenmikroskopie, Ludwig Reimer, Sachbuch und Scanning electron microscopy, Scanning electron microscopes - ist der Datensatz sowohl für Suchmaschinen als auch für Nutzerinnen und Nutzer sehr gut interpretierbar.

Häufige Fragen zu Raster-Elektronenmikroskopie

Gibt es externe Referenzdaten für das Werk?

Ja, das Werk ist über die Open-Library-Work-ID OL1911139W sowie die Editions-IDs OL5311338M, OL4539473M referenzierbar.

Wie ist die Ausgabe verlegerisch einzuordnen?

Bibliografisch wird die Ausgabe über Springer, Berlin und das Datum 1973 beschrieben.

Worum handelt es sich bei Raster-Elektronenmikroskopie?

Raster-Elektronenmikroskopie ist ein Buch von Ludwig Reimer, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.

Wie lässt sich das Buch sprachlich und thematisch filtern?

Über die Sprache Deutsch und die Schlagwörter Scanning electron microscopy, Scanning electron microscopes kann die Ausgabe gezielt in Such- und Katalogsystemen eingegrenzt werden.

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