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Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten | ISBN, Verlag und Beschreibung

01.11.2026

Lesedauer: 3 min

Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten von Helmut Sitter im Überblick mit Inhalt, Buchdaten und Einordnung. Praktisch, wenn du Titel prüfen oder Ausgaben vergleichen willst.

Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten | ISBN, Verlag und Beschreibung

Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten | ISBN, Verlag und Beschreibung

Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten - Buchbeschreibung, Ausstattung und ISBN

Wer nach einem Buch von Helmut Sitter aus dem Themenfeld Sachbuch sucht, findet mit Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten eine Ausgabe mit präziser inhaltlicher Positionierung. Als Veröffentlichungsdatum ist 1981 hinterlegt; verlegt wurde der Titel von VWGÖ in Wien.

Warum Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten relevant sein kann

Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten ist besonders für Leserinnen und Leser interessant, die sich gezielt mit Veröffentlichungen von Helmut Sitter beschäftigen möchten. Mit der Sprache Deutsch lässt sich Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten auch im internationalen oder mehrsprachigen Kontext präzise filtern. Innerhalb von Sachbuch bietet Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten eine klar erkennbare thematische Zuordnung. Verlagsname und Verlagsort - VWGÖ und Wien - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren. Auch das Veröffentlichungsdatum 1981 macht Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant.

Inhalt und thematische Schwerpunkte

Ergänzend helfen die hinterlegten Schlagwörter dabei, Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten thematisch schneller einzuordnen: Semiconductors, Impurity distribution

Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe

Die Open-Library-Zuordnung über OL5526291W und OL3082434M verbessert die externe Nachvollziehbarkeit des Werkes. Durch die Kombination aus VWGÖ, Wien und 1981 lässt sich die Ausgabe sauber verorten.

Bibliografische Daten auf einen Blick

  1. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
  2. Umfang: 152 Seiten
  3. Verlag: VWGÖ
  4. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
  5. Veröffentlicht am: 1981
  6. Buchtitel: Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten
  7. Externe Editionsreferenzen: OL3082434M
  8. Ort der Veröffentlichung: Wien
  9. ISBN-10: 3853694780
  10. Externe Work-Referenz: OL5526291W
  11. Verfasst von: Helmut Sitter
  12. Schlagwörter: Semiconductors, Impurity distribution

Suchrelevante Merkmale dieser Ausgabe

Die Verbindung aus Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten, Helmut Sitter, Sachbuch und Semiconductors, Impurity distribution schafft eine solide Grundlage für eine präzise thematische Suche.

Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe

Wie lässt sich Störstellenzustände in epitaktisch hergestellten Cd Te-Schichten thematisch einordnen?

Die Ausgabe wird dem Bereich Sachbuch zugeordnet und ist damit für thematisch fokussierte Recherchen gut geeignet.

Welche Sprache und Schlagwörter sind hinterlegt?

Verzeichnet sind die Sprache Deutsch sowie die Tags Semiconductors, Impurity distribution, die die thematische Zuordnung erleichtern.

Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?

Mit OL5526291W und OL3082434M lässt sich das Werk auch in externen bibliografischen Zusammenhängen besser verknüpfen.

Welche Verlagsangaben sind vorhanden?

Hinterlegt sind das Erscheinungsdatum 1981, der Verlag VWGÖ und der Verlagsort Wien.

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