Zuverlässigkeit und Entwurf - Welche Ausgabe, welcher Verlag, welche ISBN?

Zuverlässigkeit und Entwurf - Details zu Inhalt, Autor und Veröffentlichung

Zuverlässigkeit und Entwurf gehört zur Kategorie Sachbuch und stammt von Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (5th 2011 Hamburg-Harburg, Hamburg, Germany) - eine Kombination, die den Titel sowohl fachlich als auch bibliografisch interessant macht. Der Untertitel 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis. 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ergänzt den Haupttitel Zuverlässigkeit und Entwurf sinnvoll und gibt bereits früh einen konkreten Hinweis auf die inhaltliche Ausrichtung des Buches. Zuverlässigkeit und Entwurf wurde am 2011 publiziert und dem Verlag VDE Verlag GmbH mit Verlagsort Berlin zugeordnet.

Relevante Merkmale auf einen Blick

Für Recherchen nach Veröffentlichungszeitraum ist Zuverlässigkeit und Entwurf mit dem Datum 2011 eindeutig zuordenbar. Die Angaben zu VDE Verlag GmbH und Berlin stärken die bibliografische Präzision des Eintrags. Zuverlässigkeit und Entwurf liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Zuverlässigkeit und Entwurf ist besonders für Leserinnen und Leser interessant, die sich gezielt mit Veröffentlichungen von Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (5th 2011 Hamburg-Harburg, Hamburg, Germany) beschäftigen möchten. Zuverlässigkeit und Entwurf spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren.

Inhalte, Themen und Relevanz

Ergänzend helfen die hinterlegten Schlagwörter dabei, Zuverlässigkeit und Entwurf thematisch schneller einzuordnen: Congresses, Integrated circuits

Ausgabe, Identifikatoren und Referenzen

Im Open-Library-Kontext ist das Werk über OL22625684W sowie die Editionszuordnungen OL30650375M referenzierbar. Die verlegerische und zeitliche Einordnung wird durch VDE Verlag GmbH, Berlin und 2011 präzise ergänzt.

Die zentralen Metadaten zu Zuverlässigkeit und Entwurf

1. Buchtitel: Zuverlässigkeit und Entwurf
2. Externe Editionsreferenzen: OL30650375M
3. Publiziert bei: VDE Verlag GmbH
4. Ergänzender Titelzusatz: 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis. 29. September 2011 in Hamburg-Harburg
5. Erscheinungsdatum: 2011
6. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
7. Open-Library-Work-ID: OL22625684W
8. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
9. Autor beziehungsweise Autoren: Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (5th 2011 Hamburg-Harburg, Hamburg, Germany)
10. Umfang: 150 Seiten
11. Thematische Tags: Congresses, Integrated circuits
12. Ort der Veröffentlichung: Berlin
13. ISBN-13: 9783800733576

Suchrelevante Merkmale dieser Ausgabe

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Häufige Fragen zu Zuverlässigkeit und Entwurf

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