Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung | ISBN, Verlag und Beschreibung

Alles Wichtige zu Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung

Mit Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung liegt ein Buch von Hans Harald Hubbes vor, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und sich für alle eignet, die gezielt nach Literatur mit diesem Schwerpunkt suchen. Bibliografisch ist Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung mit dem Erscheinungsdatum 1983, dem Verlag B. Kleine und dem Ort Bielefeld erfasst.

Relevante Merkmale auf einen Blick

Dass Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung in Deutsch erschienen ist, erleichtert die gezielte Auswahl für sprachspezifische Recherchen. Für alle, die Bücher von Hans Harald Hubbes recherchieren oder vergleichen, ist Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung eine relevante Ausgabe. Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren. Das hinterlegte Publikationsdatum 1983 unterstützt dabei, Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung zeitlich korrekt zu klassifizieren. Verlagsname und Verlagsort - B. Kleine und Bielefeld - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren.

Worum geht es in Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung?

Die vorhandenen Tags verdichten die inhaltliche Einordnung des Buches zusätzlich: Analysis, Scattering, Surface chemistry, Surfaces, X-rays, Effect of radiation on, Surfaces (Physics), Silicon

Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe

Die Open-Library-Zuordnung über OL5208691W und OL2650519M verbessert die externe Nachvollziehbarkeit des Werkes. Die verlegerische und zeitliche Einordnung wird durch B. Kleine, Bielefeld und 1983 präzise ergänzt.

Wichtige Buchdaten im Überblick

1. Schlagwörter: Analysis, Scattering, Surface chemistry, Surfaces, X-rays, Effect of radiation on, Surfaces (Physics), Silicon
2. Verfasst von: Hans Harald Hubbes
3. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
4. Publiziert bei: B. Kleine
5. Seitenzahl: 176
6. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
7. Buchtitel: Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung
8. Verlagsort: Bielefeld
9. ISBN-10: 3883020613
10. Veröffentlicht am: 1983
11. Externe Work-Referenz: OL5208691W
12. Externe Editionsreferenzen: OL2650519M

Auffindbarkeit und bibliografische Präzision

Durch die Kombination aus Titel, Autorenschaft, Kategorie und Schlagwörtern - also Analyse von Si Oberflächen durch Rutherford-Rückstreuung, Hans Harald Hubbes, Sachbuch und Analysis, Scattering, Surface chemistry, Surfaces, X-rays, Effect of radiation on, Surfaces (Physics), Silicon - ist der Datensatz sowohl für Suchmaschinen als auch für Nutzerinnen und Nutzer sehr gut interpretierbar.

Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe

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