Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern | Inhalt & Buchinfos

Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern: Inhalt, Einordnung und bibliografische Details

Mit Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern liegt ein Buch von Heinz Bartsch vor, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und sich für alle eignet, die gezielt nach Literatur mit diesem Schwerpunkt suchen. Als Veröffentlichungsdatum ist 1987 hinterlegt; verlegt wurde der Titel von Akademie-Verlag in Berlin.

Mit Akademie-Verlag in Berlin ist die verlegerische Zuordnung der Ausgabe klar nachvollziehbar. Innerhalb von Sachbuch bietet Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern eine klar erkennbare thematische Zuordnung. Im Kontext des Gesamtwerks von Heinz Bartsch lässt sich Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern gezielt bibliografisch und thematisch einordnen. Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Auch das Veröffentlichungsdatum 1987 macht Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant.

Was behandelt Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern?

Ergänzend helfen die hinterlegten Schlagwörter dabei, Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern thematisch schneller einzuordnen: Technique, Materials, Semiconductors, Microscopy, Surfaces, Electron microscopy, Epitaxy

Edition und bibliografische Einordnung

Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL23037881W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL2123419M. Die Ausgabe ist über den Verlag Akademie-Verlag, den Ort Berlin und das Datum 1987 klar kontextualisiert.

Bibliografische Eckdaten dieser Ausgabe

1. Verfasst von: Heinz Bartsch
2. Veröffentlicht am: 1987
3. Ort der Veröffentlichung: Berlin
4. Externe Editionsreferenzen: OL2123419M
5. Verlag: Akademie-Verlag
6. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 3055002334
7. Thematische Tags: Technique, Materials, Semiconductors, Microscopy, Surfaces, Electron microscopy, Epitaxy
8. Externe Work-Referenz: OL23037881W
9. Seitenzahl: 84
10. Sprache: Deutsch
11. Buchtitel: Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
12. Primäre Kategorie: Sachbuch

Warum sich Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern gut einordnen lässt

Die Verbindung aus Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern, Heinz Bartsch, Sachbuch und Technique, Materials, Semiconductors, Microscopy, Surfaces, Electron microscopy, Epitaxy schafft eine solide Grundlage für eine präzise thematische Suche.

FAQ zu Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

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