Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Bibliografische Daten und Buchbeschreibung

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Inhalt, Einordnung und bibliografische Details

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis von Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury ist ein Titel aus dem Bereich Sachbuch, der thematisch klar positioniert ist und für Leserinnen und Leser mit Interesse an diesem Fach- oder Themengebiet besonders relevant sein kann. Als Veröffentlichungsdatum ist 1986 hinterlegt; verlegt wurde der Titel von Springer US in Boston, MA.

Was diese Ausgabe besonders interessant macht

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren. Mit dem Erscheinungszeitpunkt 1986 lässt sich Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis sauber in einen bibliografischen Kontext einordnen. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Im Kontext des Gesamtwerks von Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury lässt sich Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis gezielt bibliografisch und thematisch einordnen. Verlagsname und Verlagsort - Springer US und Boston, MA - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren.

Wichtige Kennzeichen dieser Ausgabe

Sowohl die ISBN-10 1475790279 als auch die ISBN-13 9781475790276 erleichtern das Auffinden und Vergleichen dieser Ausgabe erheblich. Für weiterführende bibliografische Verknüpfungen sind die Kennungen OL19824034W und OL27014671M besonders hilfreich. Die Ausgabe ist über den Verlag Springer US, den Ort Boston, MA und das Datum 1986 klar kontextualisiert.

Wichtige Buchdaten im Überblick

1. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
2. Ausgabeform: physical
3. Open-Library-Work-ID: OL19824034W
4. Veröffentlicht am: 1986
5. ISBN-13: 9781475790276
6. Ort der Veröffentlichung: Boston, MA
7. Autor beziehungsweise Autoren: Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury
8. Verlag: Springer US
9. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
10. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 1475790279
11. Open-Library-Editions-IDs: OL27014671M
12. Titel: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Auffindbarkeit und bibliografische Präzision

Mit ISBN-10, ISBN-13 und Work-ID - 1475790279, 9781475790276 und OL19824034W - lässt sich diese Ausgabe plattformübergreifend eindeutig verknüpfen.

Fragen und Antworten rund um diese Ausgabe

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