Testverfahren in der Mikroelektronik | ISBN, Verlag und Beschreibung
28/07/2026
Lesedauer: 3 min
Testverfahren in der Mikroelektronik von Wilfried Daehn im Überblick mit Inhalt, Buchdaten und Einordnung. So siehst du sofort, ob das Buch zu deiner Suche passt.
Testverfahren in der Mikroelektronik - Details zu Inhalt, Autor und Veröffentlichung
Mit Testverfahren in der Mikroelektronik liegt ein Buch von Wilfried Daehn vor, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und sich für alle eignet, die gezielt nach Literatur mit diesem Schwerpunkt suchen. Methoden und Werkzeuge fungiert als präzisierende Ergänzung zu Testverfahren in der Mikroelektronik und macht die Zielsetzung des Buches schneller erfassbar. Testverfahren in der Mikroelektronik wurde am 1997 publiziert und dem Verlag Springer Berlin Heidelberg mit Verlagsort Berlin, Heidelberg zugeordnet.
Was diese Ausgabe besonders interessant macht
Auch das Veröffentlichungsdatum 1997 macht Testverfahren in der Mikroelektronik für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant. Innerhalb von Sachbuch bietet Testverfahren in der Mikroelektronik eine klar erkennbare thematische Zuordnung. Testverfahren in der Mikroelektronik ist besonders für Leserinnen und Leser interessant, die sich gezielt mit Veröffentlichungen von Wilfried Daehn beschäftigen möchten. Testverfahren in der Mikroelektronik liegt in Deutsch vor, was für die inhaltliche Nutzung ebenso wichtig ist wie für die bibliografische Suche. Verlagsname und Verlagsort - Springer Berlin Heidelberg und Berlin, Heidelberg - helfen dabei, die Ausgabe eindeutig zu identifizieren.
Inhalt und thematische Schwerpunkte
Die vorhandenen Tags verdichten die inhaltliche Einordnung des Buches zusätzlich: Algorithmus, Logische Schaltung, Fehlererkennung, Selbsttest, Testmuster, Digitale integrierte Schaltung, Testbarkeit
Edition und bibliografische Einordnung
Die Kombination aus ISBN-10 3642605591 und ISBN-13 9783642605598 ermöglicht eine besonders präzise bibliografische Zuordnung. Durch die Kombination aus Springer Berlin Heidelberg, Berlin, Heidelberg und 1997 lässt sich die Ausgabe sauber verorten. Für weiterführende bibliografische Verknüpfungen sind die Kennungen OL19906359W und OL27091447M besonders hilfreich.
Bibliografische Eckdaten dieser Ausgabe
- Schlagwörter: Algorithmus, Logische Schaltung, Fehlererkennung, Selbsttest, Testmuster, Digitale integrierte Schaltung, Testbarkeit
- Format: physical
- Ergänzender Titelzusatz: Methoden und Werkzeuge
- Ort der Veröffentlichung: Berlin, Heidelberg
- Primäre Kategorie: Sachbuch
- ISBN-10: 3642605591
- Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783642605598
- Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
- Publiziert bei: Springer Berlin Heidelberg
- Autor beziehungsweise Autoren: Wilfried Daehn
- Externe Editionsreferenzen: OL27091447M
- Buchtitel: Testverfahren in der Mikroelektronik
- Externe Work-Referenz: OL19906359W
- Erscheinungsdatum: 1997
Auffindbarkeit und bibliografische Präzision
Die Verbindung aus Testverfahren in der Mikroelektronik, Wilfried Daehn, Sachbuch und Algorithmus, Logische Schaltung, Fehlererkennung, Selbsttest, Testmuster, Digitale integrierte Schaltung, Testbarkeit schafft eine solide Grundlage für eine präzise thematische Suche. Eindeutige Referenzdaten wie 3642605591, 9783642605598 und OL19906359W verbessern die bibliografische Verlässlichkeit zusätzlich.
Wichtige Fragen zu Inhalt und Ausgabe
Worum handelt es sich bei Testverfahren in der Mikroelektronik?
Testverfahren in der Mikroelektronik ist ein Buch von Wilfried Daehn, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.
Was verrät der Untertitel über Testverfahren in der Mikroelektronik?
Mit Methoden und Werkzeuge wird deutlich, in welche Richtung das Buch argumentiert oder welche Inhalte besonders hervorgehoben werden.
Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?
Mit OL19906359W und OL27091447M lässt sich das Werk auch in externen bibliografischen Zusammenhängen besser verknüpfen.
Wann und wo wurde die Ausgabe veröffentlicht?
Die Ausgabe erschien am 1997 bei Springer Berlin Heidelberg und ist dem Veröffentlichungsort Berlin, Heidelberg zugeordnet.
Externe Links
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