Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen | Inhalt, Autor und bibliografische Daten

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen - Buchbeschreibung, Ausstattung und ISBN

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen gehört zur Kategorie Sachbuch und stammt von Fritz, Joachim Dipl.-Phys. - eine Kombination, die den Titel sowohl fachlich als auch bibliografisch interessant macht. Die Ausgabe erschien am 1990 bei Hüthig und ist dem Verlagsstandort Heidelberg zugeordnet.

Was diese Ausgabe besonders interessant macht

Dass Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen in Deutsch erschienen ist, erleichtert die gezielte Auswahl für sprachspezifische Recherchen. Im Kontext des Gesamtwerks von Fritz, Joachim Dipl.-Phys. lässt sich Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen gezielt bibliografisch und thematisch einordnen. Innerhalb von Sachbuch bietet Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen eine klar erkennbare thematische Zuordnung. Auch das Veröffentlichungsdatum 1990 macht Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant. Der Verlag Hüthig und der Verlagsort Heidelberg liefern zusätzliche Orientierung bei der Einordnung dieser Ausgabe.

Was behandelt Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen?

Die vorhandenen Tags verdichten die inhaltliche Einordnung des Buches zusätzlich: Testing, Complementary Metal oxide semiconductors

ISBN, Revision und weitere Referenzdaten

Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL4205044W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL1631509M. Durch die Kombination aus Hüthig, Heidelberg und 1990 lässt sich die Ausgabe sauber verorten.

Wichtige Buchdaten im Überblick

1. Verlag: Hüthig
2. Autor beziehungsweise Autoren: Fritz, Joachim Dipl.-Phys.
3. Open-Library-Editions-IDs: OL1631509M
4. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-10): 3778519948
5. Primäre Kategorie: Sachbuch
6. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
7. Verlagsort: Heidelberg
8. Externe Work-Referenz: OL4205044W
9. Buchtitel: Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
10. Veröffentlicht am: 1990
11. Seitenzahl: 228
12. Schlagwörter: Testing, Complementary Metal oxide semiconductors

Relevanz für Suche und Einordnung

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen profitiert für die Auffindbarkeit besonders von der Verbindung zwischen Fritz, Joachim Dipl.-Phys., Sachbuch und den Tags Testing, Complementary Metal oxide semiconductors, weil dadurch eine starke semantische Einordnung entsteht.

Häufige Fragen zu Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen

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