Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse | Inhalt, Autor und bibliografische Daten
09/07/2026
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Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse: Inhalt, Einordnung und bibliografische Details
Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse gehört zur Kategorie Sachbuch und stammt von Günther~ vonoe Bünau - eine Kombination, die den Titel sowohl fachlich als auch bibliografisch interessant macht.
Einordnung nach Autor, Thema und Ausgabe
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Ausgabe, Identifikatoren und Referenzen
Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL27376594W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL37225936M.
Bibliografische Daten auf einen Blick
- Buchtitel: Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
- Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783322875280
- Umfang: 23 Seiten
- Erscheinungsdatum: 2013
- Externe Editionsreferenzen: OL37225936M
- Publiziert bei: VS Verlag fur Sozialwissenschaften GmbH
- Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
- Autor beziehungsweise Autoren: Günther~ vonoe Bünau
- Open-Library-Work-ID: OL27376594W
- Thematische Hauptkategorie: Sachbuch
Häufige Fragen zu Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?
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Worum handelt es sich bei Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse?
Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse ist ein Buch von Günther~ vonoe Bünau, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.
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