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Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse | Inhalt, Autor und bibliografische Daten

09/07/2026

Lesedauer: 2 min

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse von Günther~ vonoe Bünau prägnant zusammengefasst mit Fokus auf Inhalt und Ausgabe. Ideal, um Relevanz, Ausgabe und Details schnell zu prüfen.

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse | Inhalt, Autor und bibliografische Daten

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse | Inhalt, Autor und bibliografische Daten

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse: Inhalt, Einordnung und bibliografische Details

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse gehört zur Kategorie Sachbuch und stammt von Günther~ vonoe Bünau - eine Kombination, die den Titel sowohl fachlich als auch bibliografisch interessant macht.

Einordnung nach Autor, Thema und Ausgabe

Für alle, die Bücher von Günther~ vonoe Bünau recherchieren oder vergleichen, ist Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse eine relevante Ausgabe. Dass Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse in Deutsch erschienen ist, erleichtert die gezielte Auswahl für sprachspezifische Recherchen. Auch das Veröffentlichungsdatum 2013 macht Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse für zeitlich eingegrenzte Suchen besonders interessant. Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse spricht besonders Nutzer an, die sich für Bücher rund um Sachbuch interessieren.

Ausgabe, Identifikatoren und Referenzen

Auch externe Referenzen sind vorhanden: Die Work-ID lautet OL27376594W, die zugehörigen Editions-IDs sind OL37225936M.

Bibliografische Daten auf einen Blick

  1. Buchtitel: Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
  2. Internationale Standardbuchnummer (ISBN-13): 9783322875280
  3. Umfang: 23 Seiten
  4. Erscheinungsdatum: 2013
  5. Externe Editionsreferenzen: OL37225936M
  6. Publiziert bei: VS Verlag fur Sozialwissenschaften GmbH
  7. Verfügbare Sprache dieser Ausgabe: Deutsch
  8. Autor beziehungsweise Autoren: Günther~ vonoe Bünau
  9. Open-Library-Work-ID: OL27376594W
  10. Thematische Hauptkategorie: Sachbuch

Häufige Fragen zu Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Wofür sind die Open-Library-IDs hilfreich?

Mit OL27376594W und OL37225936M lässt sich das Werk auch in externen bibliografischen Zusammenhängen besser verknüpfen.

Worum handelt es sich bei Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse?

Anwendungen der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse ist ein Buch von Günther~ vonoe Bünau, das der Kategorie Sachbuch zugeordnet wird und damit thematisch klar eingeordnet werden kann.

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